AFM

08.12.2011
Теги:

Лабораторія атомно-силової мікроскопії

Атомно-силовий мікроскоп Integra Prima Basic, придбаний у 2007 році, встановлений у лабораторії 140 фізичного факультету для загальноуніверситетського користування.

Кондратенко С.В.

За експлуатацію мікроскопа відповідає доцент кафедри оптики Кондратенко Сергій Вікторович.

Мікроскоп атомних сил Integra Prima Basic призначений для аналізу поверхонь нанорозмірних об’єктів, розміщених на твердій підкладці. Типовими об’єктами досліджень є: діелектрики, метали, напівпровідники, поверхні CD/DWD дисків, молекули ДНК, полімери, тонкі органічні плівки та ін.

afm_01

Вимірювання проводяться в атмосферному оточенні при кімнатній температурі. Роздільна здатність при вимірюванні висот нанооб’єктів складає 0.05 нм. При вимірах поздовжніх розмірів величина роздільної здатності складає 10 нм. Максимальний розмір зображення складає 10х10 мкм (типовим є зображення 1х1 мкм). Час одного вимірювання складає приблизно 5 – 10 хвилин.

Мікроскоп дозволяє також проводити вимірювання контактної різниці потенціалів, ємності, намагніченості, вольт-амперних характеристик твердих тіл з нанорозмірною точністю.

afm_02

Прилад оснащений мікроскопом, який дозволяє отримати оптичні зображення в цифровому вигляді з роздільною здатністю 1 мкм.

Повний перелік можливостей приладу та приклади зображень наведено на сайті виробника www.ntmdt.ru.

Вимоги щодо підготовки зразків є такими.

· максимальні розміри зразка (підкладки) з нанооб’єктами:

ширина – 10 мм;

довжина – 40 мм;

висота – 10 мм.

· шорсткість поверхні не повинна перевищувати 1 мкм;

· нанооб’єкти мають бути зафіксовані на підкладці;

· вага зразка не повинна перевищувати 50 г.

· замовлення на виконання вимірів приймаються в лабораторій 140 фізичного факультету в будні дні з 10.00 по 11.00.